1. 工程案例背景某消費(fèi)類電子產(chǎn)品(智能門鈴系統(tǒng))在前期設(shè)計(jì)階段,由于成本限制要求等原因未過多考慮電磁兼容設(shè)計(jì)(兩層板設(shè)計(jì)),導(dǎo)致產(chǎn)品設(shè)計(jì)出來后ESD測試出現(xiàn)功能異常。 2. 產(chǎn)品前期定位分析2.1. 靜電放電(ESD)抗擾度試驗(yàn)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)及性能判據(jù)依據(jù)標(biāo)準(zhǔn): GB/T 17626.2 性能判據(jù):判據(jù)B ,不允許出現(xiàn)重啟、死機(jī)等現(xiàn)象; 測試參數(shù)設(shè)置試驗(yàn)電壓:接觸放電:正負(fù)6KV;空氣放電:正負(fù)8KV; 放電次數(shù):每放電點(diǎn)不少于20次(正/負(fù)各10次) 測試現(xiàn)象與結(jié)果圖 1 出現(xiàn)死機(jī)或重啟現(xiàn)象的測試點(diǎn) 面板處(FAIL): (1) 空氣±8KV,樣機(jī)出現(xiàn)死機(jī)及重啟現(xiàn)象; 面板縫隙處(FAIL): (2) 空氣±8KV,樣機(jī)出現(xiàn)死機(jī)及重啟現(xiàn)象; 喇叭及攝像頭處(FAIL): (3) 空氣±8KV,樣機(jī)出現(xiàn)死機(jī)及重啟現(xiàn)象; 整改對策(1) 單板地與LCD屏外殼地?cái)嚅_: 接地處理;將單板與LCD金屬結(jié)構(gòu)板通過一張絕緣塑料墊(厚2mm)隔離,使得單板地浮空; 將單板內(nèi)分割零散的信號地通過銅箔/錫線電氣連接,使得單板地更加完整;如下圖: 圖2 整改措施 測試結(jié)果: 樣機(jī)空氣放電±8KV有較大改善,出現(xiàn)重啟現(xiàn)象的測試點(diǎn)減少; 結(jié)果分析: 由于樣機(jī)單板為兩層板層疊結(jié)構(gòu),單板內(nèi)部關(guān)鍵電路無完整的參考地平面,回流阻抗較大,因此樣機(jī)抗擾性能較差;后續(xù)PCB設(shè)計(jì)中,建議頂?shù)讓佣嘣黾舆^地孔使得分散的地連接; (2) 在措施(1)的基礎(chǔ)上,單板進(jìn)行濾波處理: 單板CPU電源濾波;將CPU電源管腳處增加高頻濾波小電容(100pF); 從IC20至IC21較長的信號走線串聯(lián)磁珠(300Ω/100MHz)進(jìn)行濾波; 圖3 整改措施 測試結(jié)果: 樣機(jī)空氣放電±8KV(20次)有較大改善,出現(xiàn)重啟現(xiàn)象的測試點(diǎn)減少; 結(jié)果分析: CPU電源電路濾波不完善,芯片電源缺少小電容濾除高頻干擾(ESD為高頻干擾現(xiàn)象);后續(xù)原理圖設(shè)計(jì)中建議完善CPU電源濾波電路; (3) 在措施(2)的基礎(chǔ)上,將單板底層進(jìn)行屏蔽處理: 單板底層通過銅箔包裹屏蔽; 圖4 整改措施 測試結(jié)果: 樣機(jī)空氣放電±8KV(20次)有較大改善,出現(xiàn)重啟現(xiàn)象的測試點(diǎn)減少; 圖5 出現(xiàn)死機(jī)或重啟現(xiàn)象的測試點(diǎn) 結(jié)果分析: 單板內(nèi)部走線不合理,較長的走線環(huán)路較大,且沒有進(jìn)行濾波控制,極易空間耦合外部干擾(ESD干擾),導(dǎo)致系統(tǒng)復(fù)位;后續(xù)PCB設(shè)計(jì)中,建議控制布線的走線形式,減小布線環(huán)路面積,縮小走線長度,預(yù)留屏蔽罩; (4) 在措施(3)的基礎(chǔ)上,將單板頂層進(jìn)行屏蔽處理: 單板頂層通過銅箔包裹屏蔽; 測試結(jié)果: 樣機(jī)空氣放電±8KV(20次)有較大改善,出現(xiàn)重啟現(xiàn)象的測試點(diǎn)減少; 圖6 出現(xiàn)死機(jī)或重啟現(xiàn)象的測試點(diǎn) 結(jié)果分析: 單板內(nèi)部走線不合理,較長的走線環(huán)路較大,且沒有進(jìn)行濾波控制,極易空間耦合外部干擾(ESD干擾),導(dǎo)致系統(tǒng)復(fù)位; (5) 在措施(4)的基礎(chǔ)上,將揚(yáng)聲器接口、攝像頭接口增加多孔珠進(jìn)行濾波: 測試結(jié)果: 樣機(jī)空氣放電±8KV(20次),接觸放電±6KV(20次),未出現(xiàn)重啟/死機(jī)現(xiàn)象; 結(jié)果分析: 揚(yáng)聲器接口、攝像頭接口濾波處理不當(dāng),導(dǎo)致靜電干擾通過接口進(jìn)入單板內(nèi)部;在后續(xù)原理圖設(shè)計(jì)中,建議完善信號接口的濾波電路; 2.2. 定位分析總結(jié)通過定位測試分析,得知樣機(jī)在ESD測試時(shí),樣機(jī)的性能下降的原因:一是樣機(jī)內(nèi)部單板走線不合理,不合理的走線容易耦合外部干擾導(dǎo)致樣機(jī)重啟/死機(jī);一是信號接口的濾波不完善,干擾通過線纜進(jìn)入單板內(nèi)部導(dǎo)致樣機(jī)重啟/死機(jī);后續(xù)樣機(jī)改板建議如下: (1) 將單板地與LCD屏機(jī)殼地?cái)嚅_; (2) CPU電源電路進(jìn)行濾波處理; (3) 各接口濾波優(yōu)化處理; (4) PCB走線優(yōu)化; 3. 產(chǎn)品改板設(shè)計(jì)3.1. PCB布局設(shè)計(jì)問題分析3.1.1. 問題1分析【問題分析】電源電路布局較為分散,不利于電源EMC濾波控制; 圖7 電源電路布局圖 【問題改善建議】 (1) 電源電路靠近直流電源輸入接口放置; (2) 電源電路各器件排放整齊緊湊; 具體如布局如下圖所示: 圖8 電源電路布局建議圖 3.1.2. 問題2分析【問題分析】IC21芯片離主芯片IC20較遠(yuǎn),導(dǎo)致較長的連接走線,較長的連接走線容易形成噪聲接收天線;
圖9 互聯(lián)芯片放置圖 【問題改善建議】IC21芯片整體向上靠近IC20移動,縮短兩芯片之間的互聯(lián)走線; 3.1.3. 問題3分析【問題分析】DDR芯片IC15與主芯片IC20之間存在較長的連接走線,較長的連接走線容易形成噪聲接收天線;
圖10 互聯(lián)芯片放置圖 【問題改善建議】IC15芯片逆時(shí)針90度轉(zhuǎn)動,使得兩芯片之間的互聯(lián)走線最短; 3.2. PCB布線設(shè)計(jì)問題分析3.2.1. 問題1分析【問題分析】板邊沿存在信號布線,容易耦合外部干擾導(dǎo)致EMC等問題;
圖11 CAN信號走線不當(dāng) 【問題改善建議】 (1) 單板周邊應(yīng)鋪設(shè)地平面接多打過地孔使得頂?shù)讓拥仄矫孢B接; (2) 單板周邊禁止布線; 3.2.2. 問題3分析【問題分析】底層布線與底層布線投影重合,容易產(chǎn)生串?dāng)_,且不利于信號完整;
圖12 頂?shù)讓又睾献呔€ 【問題改善建議】頂?shù)讓幼呔€投影避免產(chǎn)生重合,要求交叉走線; 4. 產(chǎn)品回歸驗(yàn)證結(jié)果經(jīng)過改板后的產(chǎn)品,滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 17626.2中的ESD測試要求(接觸放電:正負(fù)6KV;空氣放電:正負(fù)8KV)。 |
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