|
雖然英特爾和美光已經(jīng)解除在閃存領(lǐng)域的合作了,不過(guò)到96層3D NAND為止它們的技術(shù)還是共同研發(fā)的。所以今天介紹的內(nèi)容同時(shí)包括英特爾和美光,或者說(shuō)是它們二者位于猶他州利希市的合資工廠IMFT所采用的閃存技術(shù)。 Floating Gate VS Charge Trap 長(zhǎng)久以來(lái)Floating Gate浮柵式結(jié)構(gòu)一直是平面NAND閃存的共同選擇。閃存使用浮柵層中的電子來(lái)記錄和表達(dá)數(shù)據(jù)。在最上方的控制柵極施加正電壓,電子就通過(guò)隧道氧化層進(jìn)入Floating Gate浮柵,完成寫(xiě)入操作。在Substrate襯底施加正電壓,可以將電子從浮柵層吸引出來(lái),完成擦除操作。隨著擦除次數(shù)的增多,隧道氧化層老化,存儲(chǔ)在浮柵中的電子就容易流失而導(dǎo)致數(shù)據(jù)出錯(cuò),不斷磨損的最終的結(jié)果就是閃存單元損壞。 Charge Trap電荷捕獲型結(jié)構(gòu)的提出略早于3D NAND閃存,并在3D閃存時(shí)代成為主流的選擇,包括三星、東芝、SK Hynix在內(nèi)的閃存廠商普遍選擇了Charge Trap,只剩英特爾/美光在3D NAND中堅(jiān)持Floating Gate不動(dòng)搖。 在2013年的閃存峰會(huì)上,三星介紹V-NAND時(shí),用比喻的方式解讀了Floating Gate浮柵型與Charge Trap電荷捕獲型的區(qū)別:前者像水一樣可讓電子在其中自由移動(dòng),后者像奶酪一樣捕獲電子,使其難以動(dòng)彈。顯然,Charge Trap電荷捕獲型結(jié)構(gòu)有利于減少隧道氧化層變薄和老化對(duì)擦寫(xiě)壽命產(chǎn)生的影響,簡(jiǎn)而言之,這項(xiàng)技術(shù)可以有效提升閃存的耐久度。 不以Floating Gate為恥: 美光在官網(wǎng)上非常自豪的宣布,自己是首個(gè)將floating gate浮柵結(jié)構(gòu)應(yīng)用到3D閃存當(dāng)中的。換句話(huà)說(shuō),美光不認(rèn)為自己的選擇就比三星、東芝和SK Hynix全都采用的Charge Trap電荷捕獲型結(jié)構(gòu)落后。 Charge Trap電荷捕獲型結(jié)構(gòu)有很多優(yōu)勢(shì),比如制造工藝更簡(jiǎn)單、存儲(chǔ)單元間距可以做的更小、隧道氧化層老化磨損速度降低、更節(jié)能。而凡事都有兩面性,英特爾/美光選擇繼續(xù)使用的Floating Gate浮柵型也并非一無(wú)是處,比如在讀取干擾、數(shù)據(jù)保持期上,F(xiàn)loating Gate理論上比Charge Trap表現(xiàn)的更好。 簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),采用Charge Trap有助于更高的閃存寫(xiě)入耐久度,F(xiàn)loating Gate則有利于實(shí)現(xiàn)更長(zhǎng)的斷電數(shù)據(jù)保持時(shí)間。當(dāng)然,這里的比較是基于理論研究的成果,并不是具體某個(gè)閃存型號(hào)的直接對(duì)比結(jié)果。 浮柵結(jié)構(gòu)的英特爾/美光3D NAND并不弱雞: 使用傳統(tǒng)Floating Gate浮柵式結(jié)構(gòu)的英特爾/美光3D NAND閃存也有很多創(chuàng)新之處。比如CuA(CMOS Under the Array)設(shè)計(jì)將超過(guò)75%的邏輯電路(包括地址解碼和頁(yè)面緩沖器等)放置在閃存之下,提高了存儲(chǔ)密度,有助于獲得成本優(yōu)勢(shì)。 當(dāng)代閃存的Page大小已經(jīng)達(dá)到16KB,而操作系統(tǒng)主要使用4KB隨機(jī)讀寫(xiě)。為了提升4K隨機(jī)讀取效能,英特爾/美光在3D NAND閃存當(dāng)中引入了Snap Read功能。在Snap Read幫助下,第二代64層堆疊3D閃存中典型Page頁(yè)讀取延遲從78微秒降低到49微秒。 Snap Read在第一、第二和未來(lái)第三代3D NAND閃存中具有不同程度的支持。 英特爾/美光將16KB的Page分為3個(gè)8K+區(qū)段:對(duì)應(yīng)0-9295字節(jié)、4648-13943字節(jié)和9296-18591字節(jié)。Snap Read啟用時(shí),讀取命令指定的字節(jié)地址決定要讀取的8K+區(qū)段。尋址前4KB+部分(包括4KB和Spare area,下同)時(shí)激活第一個(gè)8KB+部分讀取,尋址第二個(gè)4KB+部分激活中間的8KB+部分讀取,尋址第三和第四個(gè)4KB+部分激活末尾的8KB+部分讀取。 Snap Read通過(guò)讀取部分頁(yè)面,能夠讓4K讀取速度更快一些,同時(shí)還能降低功耗。對(duì)于固態(tài)硬盤(pán)來(lái)說(shuō),Snap Read的直接影響就是4K單線(xiàn)程讀取性能更強(qiáng)。下圖是PHISON群聯(lián)下一代E12主控搭配東芝和美光3D閃存時(shí)的CrystalDiskMark成績(jī): 眾所周知,由于SLC Cache的原因,CrystalDiskMark測(cè)出的4K讀取性能都是基于SLC Cache的結(jié)果。受益于Snap Read的影響,美光B16A(第二代64層堆疊3D NAND,單Die 256Gb容量)的4K讀取延遲更低,在同樣的主控下單線(xiàn)程4K讀取性能取得了顯著的領(lǐng)先優(yōu)勢(shì)(67.73MB/s Vs 56.69MB/s)。 當(dāng)然,隨著英特爾和美光雙方在閃存研發(fā)上分道揚(yáng)鑣,業(yè)界也不確定之后會(huì)不會(huì)有誰(shuí)最終轉(zhuǎn)向更大眾的Charge Trap電荷捕獲型結(jié)構(gòu)。 |
|
|
來(lái)自: 春天的早晨1usr > 《待分類(lèi)》