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電子元器件損壞的規(guī)律和特點(diǎn)

 都市小電工 2016-05-11
  電子元器件損壞的規(guī)律和特點(diǎn)

  一、電阻是電器設(shè)備中數(shù)量最多的元件,但不是損壞率最高的元件。電阻損壞以開路最常見,阻值變大較少見,阻值變小十分少見。常見的有碳膜電阻、金屬膜電阻、線繞電阻和保險電阻幾種。

  前兩種電阻應(yīng)用最廣,其損壞的“特點(diǎn)”

  1、是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100kΩ以上)的損壞率較高,中間阻值(如幾百歐到幾十千歐)的極少損壞;

  2、是低阻值電阻損壞時往往是燒焦發(fā)黑,很容易發(fā)現(xiàn),而高阻值電阻損壞時很少有痕跡。線繞電阻一般用作大電流限流,阻值不大。

  根據(jù)以上特點(diǎn),在檢查電阻時可有所側(cè)重,快速找出損壞的電阻。

  二、電解電容在電器設(shè)備中的用量很大,故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現(xiàn):一是完全失去容量或容量變小;二是輕微或嚴(yán)重漏電;三是失去容量或容量變小兼有漏電。

  三、二、三極管的損壞一般是PN結(jié)擊穿或開路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現(xiàn):一是熱穩(wěn)定性變差,表現(xiàn)為開機(jī)時正常,工作一段時間后,發(fā)生軟擊穿;另一種是PN結(jié)的特性變差,用萬用表R×1k測,各PN結(jié)均正常,但上機(jī)后不能正常工作,如果用R×10或R×1低量程檔測,就會發(fā)現(xiàn)其PN結(jié)正向阻值比正常值大。

  四、集成電路內(nèi)部結(jié)構(gòu)復(fù)雜,功能很多,任何一部分損壞都無法正常工作。

  集成電路的損壞也有兩種:徹底損壞、熱穩(wěn)定性不良。徹底損壞時,可將其拆下,與正常同型號集成電路對比測其每一引腳對地的正、反向電阻,總能找到其中一只或幾只引腳阻值異常。對熱穩(wěn)定性差的,可以在設(shè)備工作時,用無水酒精冷卻被懷疑的集成電路,如果故障發(fā)生時間推遲或不再發(fā)生故障,即可判定。通常只能更換新集成電路來排除。

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