雖然概率極底，但有內(nèi)存缺陷和故障可能會(huì)導(dǎo)致各種怪異的 Windows 系統(tǒng)問(wèn)題。如果你的電腦經(jīng)常死機(jī)、無(wú)故重啟或藍(lán)屏，應(yīng)當(dāng)首先懷疑是內(nèi)存故障或接觸不良等引起，此時(shí)應(yīng)首先使用 Windows 內(nèi)存診斷工具來(lái)做內(nèi)存排錯(cuò)。

有很多專(zhuān)業(yè)工具都可以做內(nèi)存診斷工作，但微軟已經(jīng)在 Windows 中內(nèi)置了一個(gè)內(nèi)存診斷工具，用戶(hù)可以直接在開(kāi)始菜單中搜索「內(nèi)存診斷」打開(kāi)使用。

工具打開(kāi)之后有兩個(gè)選項(xiàng)，可選擇立即重啟執(zhí)行或在下次重啟計(jì)算機(jī)時(shí)執(zhí)行內(nèi)存診斷：

無(wú)論你在兩者之間如何選擇，重啟 Windows 之后就會(huì)開(kāi)始底層的內(nèi)存檢查，該過(guò)程可能會(huì)持續(xù)比較長(zhǎng)的時(shí)間。用戶(hù)可以看到整個(gè)執(zhí)行階段和進(jìn)度條，此時(shí)大家可以喝杯咖啡休息片刻。

一般來(lái)說(shuō)，按工具的默認(rèn)選項(xiàng)進(jìn)行診斷測(cè)試即可。當(dāng)然你也可以在執(zhí)行界面按 F1 來(lái)選擇「測(cè)試組合」：

• 基本：基本測(cè)試為 MATS+、INVC 和 SCHCKR（啟用緩存）。

• 標(biāo)準(zhǔn)：標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試包括所有基本測(cè)試，以及 LRAND、Stride 6（啟用緩存）、CHCKR3、WMATS+ 和 WINVC。

• 擴(kuò)展：擴(kuò)展測(cè)試包括所有標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，外加 MATS+（禁用緩存）、Stride38、WSCHCKR、WStride-6、CHCKR4、WCHCKR3、ERAND、Stride6（禁用緩存）和 CHCKR8。

執(zhí)行完成后 Windows 會(huì)自動(dòng)重啟回到登錄界面。如果你使用過(guò)該工具，很多用戶(hù)的內(nèi)存診斷工作就止步于此了。完事了？結(jié)果呢？為毛連一個(gè)診斷結(jié)果都木有？

要查看結(jié)果，我們需要在事件查看器（很多 IT Pro 還是喜歡直接叫 Event log）中進(jìn)行篩選：

1.在「運(yùn)行」中執(zhí)行 eventvwr 打開(kāi)事件查看器

2.導(dǎo)航到「Windows 日志」- 「系統(tǒng)」，點(diǎn)擊右側(cè)窗格中的「篩選當(dāng)前日志」

3.在下拉列表中勾選 MemoryDiagnostics-Results 即可篩選出所有內(nèi)存診斷的結(jié)果日志。

4.雙擊任意結(jié)果即可查看詳細(xì)信息。

最后說(shuō)明一下，Windows 內(nèi)存診斷工具支持所有 Windows 7 及更新版本的操作系統(tǒng)。