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在軟件測(cè)試過(guò)程中，可以將度量分為兩大類(lèi)： 1)衡量測(cè)試效率和測(cè)試工作量 - 工作量指標(biāo) 例如，測(cè)試效率評(píng)價(jià)、測(cè)試進(jìn)度S曲線(xiàn)等. 2)從質(zhì)量的角度表明測(cè)試的結(jié)果 - 結(jié)果指標(biāo) 例如，缺陷數(shù)量、到達(dá)模式、系統(tǒng)崩潰和掛起的次數(shù)等. 測(cè)試過(guò)程S曲線(xiàn) 追蹤測(cè)試過(guò)程也許是軟件測(cè)試階段管理中最重要的追蹤任務(wù)。建議的一種度量是測(cè)試過(guò)程一段時(shí)間內(nèi)的S曲線(xiàn)。S曲線(xiàn)的X坐標(biāo)代表時(shí)間單位，Y坐標(biāo)代表測(cè)試用例數(shù)目或測(cè)試點(diǎn)數(shù)目。之所以稱(chēng)為S曲線(xiàn)，意味著數(shù)據(jù)隨著時(shí)間而積累、并由于密集的測(cè)試活動(dòng)而呈現(xiàn)出S的形狀，造成一個(gè)坡度很大的測(cè)試斜面。圖中必須包含下列信息： 1)每周(或天、小時(shí))嘗試的測(cè)試用例數(shù)目或測(cè)試點(diǎn)數(shù)目 2)每周計(jì)劃的測(cè)試用例數(shù)目或測(cè)試點(diǎn)數(shù)目 3)每周成功完成的測(cè)試用例數(shù)目或測(cè)試點(diǎn)數(shù)目 這個(gè)度量的目的在于追蹤測(cè)試進(jìn)度，將其與計(jì)劃進(jìn)行比較，可以及時(shí)得到測(cè)試行為滯后的信息，從而盡早采取措施。眾所周知，當(dāng)進(jìn)度壓力非常大時(shí)，測(cè)試、特別是開(kāi)發(fā)階段的測(cè)試會(huì)受到很大影響。如果有一個(gè)合適的正式的測(cè)試進(jìn)度度量，開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)就不容易忽視這個(gè)問(wèn)題。從項(xiàng)目計(jì)劃的角度來(lái)說(shuō)，S曲線(xiàn)迫使團(tuán)隊(duì)更好的計(jì)劃整個(gè)項(xiàng)目。 基于時(shí)間的缺陷到達(dá) 測(cè)試階段的缺陷追蹤和管理對(duì)所有的軟件測(cè)試都是值得推薦的。 相對(duì)產(chǎn)品發(fā)布時(shí)間來(lái)說(shuō)，缺陷到達(dá)何時(shí)達(dá)到峰值?當(dāng)前版本的缺陷到達(dá)模式與前面的版本相比如何?達(dá)到的峰值是多少?在發(fā)布前缺陷到達(dá)是否降低到一個(gè)低而穩(wěn)定的水平?以上這些問(wèn)題都是缺陷到達(dá)度量的關(guān)鍵，對(duì)產(chǎn)品在領(lǐng)域中應(yīng)用的質(zhì)量有重要意義，因?yàn)檫@些問(wèn)題都暗示著將來(lái)產(chǎn)品的質(zhì)量。 比較好的缺陷到達(dá)模式應(yīng)當(dāng)是這樣的：早期到達(dá)率較高，峰值到達(dá)的較早，在產(chǎn)品發(fā)布日期前到達(dá)率就降低到一個(gè)較低的層次。 基于時(shí)間的缺陷積壓 任何給定時(shí)間內(nèi)遺留的測(cè)試缺陷定義為缺陷積壓，簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，缺陷積壓就是到達(dá)的缺陷與修復(fù)的缺陷之間的累積數(shù)目之差。從測(cè)試進(jìn)度的角度來(lái)說(shuō)，缺陷積壓的追蹤和管理是非常重要的。 開(kāi)發(fā)過(guò)程中大量的問(wèn)題積壓會(huì)妨礙測(cè)試進(jìn)程 當(dāng)產(chǎn)品將要發(fā)布給用戶(hù)時(shí)，存在大量的缺陷積壓意味著在開(kāi)發(fā)周期已經(jīng)發(fā)現(xiàn)的很多缺陷將在用戶(hù)使用時(shí)重現(xiàn)。 但是，在開(kāi)發(fā)過(guò)程中，降低缺陷積壓不一定就是優(yōu)先級(jí)最高的任務(wù)。 如果當(dāng)前的重要開(kāi)發(fā)活動(dòng)是功能測(cè)試，管理缺陷積壓就不應(yīng)當(dāng)具有最高的優(yōu)先級(jí)，重點(diǎn)應(yīng)當(dāng)一直放在測(cè)試效率和測(cè)試執(zhí)行上，鼓勵(lì)最大可能的發(fā)現(xiàn)缺陷。 如果當(dāng)前階段的主要目標(biāo)是修復(fù)可能危害測(cè)試進(jìn)程的重大缺陷上，就不必把工作重點(diǎn)放在降低整個(gè)缺陷積壓上 在測(cè)試將要結(jié)束時(shí)，重點(diǎn)就應(yīng)當(dāng)放在大幅度降低缺陷積壓上 推薦以下的全局測(cè)試管理方法： 1)當(dāng)測(cè)試計(jì)劃制訂好，有效性已經(jīng)通過(guò)審核并被接受，管理測(cè)試進(jìn)度，從而盡早獲得S曲線(xiàn)的早期上升斜面 2)監(jiān)控缺陷到達(dá)，分析問(wèn)題，從而獲得如何采取改進(jìn)行動(dòng)的信息。不要認(rèn)為的控制缺陷到達(dá)，這是與測(cè)試效率、測(cè)試進(jìn)度和代碼內(nèi)在質(zhì)量(代碼中潛伏的缺陷數(shù))都有關(guān)的。 3)加強(qiáng)管理缺陷積壓的降低，力圖達(dá)到預(yù)期目標(biāo)，危害測(cè)試進(jìn)程的已知缺陷應(yīng)當(dāng)賦予最高的優(yōu)先級(jí) |
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