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 BANALA 2011-01-07

《THDD》使用說(shuō)明與壞道修復(fù)

簡(jiǎn)介:THDD是G-LIST級(jí)別的壞道修復(fù)軟件,它目前的版本不支持P-LIST級(jí)操作,處理速度快;它沒(méi)有MHDD/Dalas /HDD Scan等軟件其它的功能,只能檢測(cè)和修復(fù)壞道;共同點(diǎn)支持所有品牌硬盤(pán) 中國(guó)硬盤(pán)基地網(wǎng)
   THDD1.0 下載地址:http://www./down/2006/1225/soft_355.html
   THDD2.0 下載地址:http://www./down/2006/1225/soft_356.html
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操作步驟:
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一:將需要檢測(cè)/修復(fù)的硬盤(pán)接到計(jì)算機(jī)IDE2口,運(yùn)行THDD程序;
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圖一界面說(shuō)明,此界面中顯示了IDE接口,端口顯示將按照硬盤(pán)系列順序一一列出,選擇需要檢測(cè)硬盤(pán)端口使用 上 下 方向鍵來(lái)完成選擇;選擇后回車(chē)將進(jìn)入下一步;
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圖一:進(jìn)入程序,選擇需要檢測(cè)修復(fù)的硬盤(pán)
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圖二:選擇執(zhí)行的功能(主菜單)
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二:選擇硬盤(pán)后,狀態(tài)欄顯示了硬盤(pán)的型號(hào)/版本/SN/SMART狀態(tài)等等信息;如下圖;
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圖三:狀態(tài)欄信息 中國(guó)硬盤(pán)基地網(wǎng)
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MODEL:硬盤(pán)型號(hào)顯示
FIRMWARE:固件版本號(hào)顯示 中國(guó)硬盤(pán)基地網(wǎng)
SERIAL N:硬盤(pán)SN的顯示 中國(guó)硬盤(pán)基地網(wǎng)
SMART 5:SMART當(dāng)前狀態(tài)顯示 中國(guó)硬盤(pán)基地網(wǎng)
SIZE(MBytes):硬盤(pán)容量大小大?。∕B)狀態(tài)顯示
ROTATION SPEED:硬盤(pán)轉(zhuǎn)速顯示 中國(guó)硬盤(pán)基地網(wǎng)
CYLINDER:柱面數(shù)顯示 中國(guó)硬盤(pán)基地網(wǎng)
HEAD:磁頭數(shù)顯示 中國(guó)硬盤(pán)基地網(wǎng)
SECTOR:扇區(qū)數(shù)顯示
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圖四:程序的主菜單
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CLEAR FAT 清除FAT表
CLEAR MBR清除MBR
SURFACE TEST 磁盤(pán)表面檢測(cè)
VIEW DEFECT LIST 查看缺陷列表
注意:選項(xiàng)菜單中并不能察看硬盤(pán)上的缺陷表,只能夠顯示在磁盤(pán)表面檢測(cè)中發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)列表,如果沒(méi)有經(jīng)過(guò)檢測(cè),列表中將沒(méi)有顯示;
CHOICE DRIVE選擇操作驅(qū)動(dòng)器;
EXIT 退出
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三:硬盤(pán)表面的檢測(cè);
1:執(zhí)行SURFACE TEST選項(xiàng)菜單后,出現(xiàn)圖五中顯示,CHS模式只能檢測(cè)8GB以下硬盤(pán),LBA模式可以支持超過(guò)8G以上硬盤(pán)的檢測(cè),此功能選項(xiàng)根據(jù)測(cè)試硬盤(pán)而定;在檢測(cè)運(yùn)行方式上,兩種具備相同的功效;
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圖五:選擇工作模式
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2:選擇工作模式進(jìn)入,出現(xiàn)圖六顯示;這里選擇從開(kāi)始數(shù)值,回車(chē)(確定)后,開(kāi)始執(zhí)行硬盤(pán)表面的掃描
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圖六:選擇硬盤(pán)開(kāi)始檢測(cè)的位置
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3:檢測(cè)完畢后,我們可以使用VIEW DEFECT LIST(查看缺陷列表) 功能來(lái)查看檢測(cè)結(jié)果;
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圖七:察看硬盤(pán)壞道掃描結(jié)果列表結(jié)果
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這個(gè)時(shí)候可以按鍵盤(pán)“R”鍵,開(kāi)始執(zhí)行修復(fù),THDD會(huì)自動(dòng)把這些缺陷添加到硬盤(pán)的G-LIST表中;鍵盤(pán)中“R”鍵全稱(chēng)為:Repair(修復(fù));
4:退出THDD,關(guān)閉計(jì)算機(jī)(硬盤(pán)的復(fù)位工作);
注意:當(dāng)硬盤(pán)斷電重新啟動(dòng);才可以準(zhǔn)確地檢測(cè)出我們之前的操作是否能夠達(dá)到修復(fù)目的;
5:重新啟動(dòng)THDD進(jìn)行檢測(cè),察看是否修復(fù);
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